功能性测试设备
功能性测试是确保芯片能够按设计工作的基本手段。这些设备模拟了芯片在实际应用中的各种操作条件，通过检测输出信号来评估芯片是否正确执行其功能。这类设备通常包含逻辑分析仪、数字多用表、示波器等，它们可以用于测量电压、当前和频率等参数，并且还能捕捉到脉冲信号，以便对高速数据进行分析。
性能测试设备
性能测试则更侧重于评估芯片的速度和效率。这些设备通常包括高性能的逻辑分析仪和协议分析仪，它们能够处理高速数据流并提供深入的故障诊断能力。例如，使用这些工具可以监控内存访问模式，从而判断CPU是否在满足性能要求下正常运行。此外，还有专门针对特定应用领域，如网络通信或音视频播放等，进行优化和验证。
环境试验设备
环境试验是为了验证芯片在不同温度、湿度、高低压等极端环境下的稳定性。在生产过程中，这些试验对于确保产品质量至关重要。常见的环境试验包括恒温箱、高低温箱、湿热箱以及放射线辐射机等。通过这些实验，可以了解芯片在极端条件下的行为，从而预防潜在的问题。
强制故障注入（FIB）系统
强制故障注入技术是一种特殊的手段，用以模拟真实世界中可能发生但难以复现的情况，比如硬件损坏或者软件错误。这项技术涉及精准地修改晶体管或其他元件，使其表现出特定的缺陷，然后观察系统如何响应这样的问题，从而提高设计师识别潜在问题并解决它们的能力。
自动化集成电路测试系统（AICTS）
自动化集成电路测试系统是一种结合了多种先进技术的大型平台，它们能够自动完成从封装到完整板级测试的一系列步骤。这意味着一个单一平台就可以执行从简单连接检查到复杂函数验证的大部分任务，大大提高了生产效率并减少了人工错误。此外，这些系统还支持远程控制与监控，为现代制造业带来了巨大的灵活性与便捷性提升。
